摘要

随着大豆生产及豆制品加工业的发展,大豆的品质育种已越来越被育种家所重视。传统的破坏性抽样检测方法已难以满足育种过程中早代材料的快速筛选要求。近红外光谱技术已在大豆品质检测中得到了广泛应用,但都是针对大量样本的,不能满足育种过程中对少量甚至单粒大豆品质检测的需求。文章采用AOTF近红外光谱仪对单粒大豆的漫反射光谱进行了研究。实验中测定了两个品种的大豆,分别是60粒"垦鉴豆43"和60粒"中黄13"。根据单粒大豆的近红外光谱,结合软独立建模分类法(SIMCA)建立定性分析模型,可准确鉴别大豆的品种。其研究中对"垦鉴豆43"和"中黄13"的识别正确率为100%。通过在不同部位多次测定单粒大豆的光谱,表明对于单粒种子的测定,光谱的准确获取及光谱的代表性是关键。大豆籽粒的表面形态对光谱扫描影响很大。对于表面光滑的大豆,光谱的重复性较好,而存在表面缺陷的种子,多次扫描得到的光谱存在明显差异。作为育种中快速筛选方法的需要,可在外观鉴定剔除表面缺陷的种子后,采用近红外光谱对内部成分进行检测,从而降低外部形态对光谱扫描的影响。