集成电路的可靠性分析通常以其平均无故障时间的计算为基础。本文通过浴盆曲线介绍了集成电路的早期失效期、偶然失效期与损耗失效期,论证了集成电路的使用寿命符合泊松过程,基于泊松过程与集成电路的失效规律分析了集成电路的平均无故障时间的计算方法,以俄制k133πA3 型单片TTL小规模半导体集成电路运行故障数据为基础,分析了平均无故障时间的计算与使用方法的可靠度。
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