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摘要
目的通过对上颌过小侧切牙患者X线头影测量分析,了解其颌面形态发育特征。方法选择120例上颌过小侧切牙患者作为研究对象,分为2组:A组为Ⅰ型锥形侧切牙60例,B组为Ⅱ型过小牙60例,拍摄X线头颅侧位片,对其进行X线头影测量分析。结果 A组患者SNA、ANB、Ptm-A(mm)、U1-SN、L1-NB、UL-EP值减小,SNB、PP-GoGn、SN-MP、Y轴、U1-L1、U1-NA、L1-MP、Z角增大;B组SNB、PP-GoGn、SN-MP、SN-MP、Y轴、U1-L1、Z角值减小,ANB、L1-NB、L1-MP值增大,差异均有统计学意义(P<0.05)。结论多数上颌Ⅰ型锥形侧切牙患者表现为上颌骨发育不足,上颌后缩;多数上颌Ⅱ型过小侧切牙患者表现为下颌骨发育不足,下颌后缩。两型过小侧切牙患者具有截然不同的颌面形态特征。
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