某机载VPX模块故障分析、改进设计及验证

作者：尤浩; 李鹏程

来源：舰船电子对抗, 2021, 44(04): 111-116.

DOI：10.16426/j.cnki.jcdzdk.2021.04.026

• 故障分析
• 金相切片
• 应变测试

电子设备在运输、使用过程中受到环境应力的作用而发生故障时有发生。采用金相切片检测技术和应变测试技术对某机载VPX模块的故障进行分析,完成故障定位与机理分析,并对改进后的设计进行验证,为同类模块设计提供参考。

• 单位
  中国电子科技集团公司第二十研究所