Z箍缩软X射线辐射能量薄膜量热计改进技术

作者：李沫; 王亮平

来源：强激光与粒子束, 2013, (08): 2142-2146.

• 薄膜量热计
• 总能量测量
• Z箍缩
• 等离子体
• 铝丝阵 resistive bolometer
• X-ray yield measurement
• Z-pinch
• plasma
• Al wire array

薄膜量热计是进行Z箍缩辐射总能量测量的主要手段之一,准确可信的总能量参数对Z箍缩研究具有重要意义。对薄膜量热计装置进行技术改进,采用脉冲恒流源代替脉冲恒压源驱动镍薄膜量热计,撤除了回路中的串接电阻,可直接测量薄膜探测器的电阻变化,从而有效提高了辐射总能量测量的精度,拓宽了该设备的适用范围,使其可对目前"强光一号"加速器Z箍缩实验中所有典型负载进行测量。改进后平面型铝丝阵负载实验中总能量测量的相对不确定度由49.0%降低为19.6%。与闪烁探测系统功率测量结果积分值进行了对比,二者比值在0.87～1.04之间。

• 单位
  西北核技术研究所