一起断路器断口电容介损异常的分析

作者：戚科孙; 刘春涛; 黄学民; 欧阳聪; 鲍超斌; 夏秋

来源：电工技术, 2019, (05): 130-133.

DOI：10.19768/j.cnki.dgjs.2019.05.048

• 多断口
• 断路器
• 介质损耗
• 母线侧
• CT侧

首先介绍超高压输电公司广州局多断口断路器断口间并联电容器介损异常的总体情况,然后对一起断路器端口电容介损的异常情况进行原因分析。采用高压介损的方法对该断路器三相母线侧和CT侧测试值与上次试验值分别进行了比较,得出其发生了Garton效应,从而引起了试验值异常的结论,并且说明了母线侧电容器比CT侧电容器介损更大的原因。最后给出设备改进意见。