具有化学键分辨的非接触式原子力显微(nc-AFM)表征展现出了优异的分子结构解析能力，是近十年来显微表征领域里的代表性进展，成为表面分子相关研究的重要工具。本文首先介绍了化学键分辨的非接触式原子力显微镜的核心部件：qPlus传感器，以及实现化学键分辨所必须的针尖修饰技术；围绕该表征方法在分子几何结构成像上的功能，重点介绍了nc-AFM在天然产物结构确定以及表面在位反应研究上的最新进展。
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