晶体管放大电路非线性失真综合实验设计与实现

作者：顾祎陆; 刘延飞^*; 田琦; 鞠秉宸; 刘斌

来源：实验技术与管理, 2021, 38(11): 173-182.

DOI：10.16791/j.cnki.sjg.2021.11.032

• 晶体管放大器
• 非线性失真
• STM32
• 总谐波失真值

针对电子技术课程教学中,晶体管放大器的非线性失真现象及其产生机理、数学模型分析过程抽象难懂问题,设计了一款晶体管放大电路非线性失真综合实验装置。该实验装置基于STM32嵌入式系统设计原理,对输入波形实时进行FFT快速傅里叶变换,计算并显示总谐波失真值,可自由切换模式以实现无失真放大输出和"顶部失真""底部失真""双向失真""交越失真"四种晶体管常见失真形式信号输出。教学实践证明,此实验较好地实现了晶体管放大电路非线性失真实验要求。将该教学理念应用到信号与系统及单片机技术等电子类课程,可对全面提高学生理论分析和工程应用能力起到很好的促进作用。