摘要

在纳米TiO2改性聚酰亚胺(PI)薄膜寿命评估中,针对失效数据少、寿命分布无法唯一确定、成本高和试验时间长等问题,提出一种基于灰色神经网络的小样本绝缘寿命评估方法。采用原位聚合法制备纳米TiO2改性PI薄膜,进行加速电老化试验并获取失效数据;构建并训练灰色神经网络,得到与原始数据特征、变化规律相似的扩充数据。采用最小二乘法进行参数估计,分析对比不同失效数据样本量、分布模型和经验累计失效函数的寿命评估结果。通过实际算例,分析扩充前后的最优寿命评估不同方案。结果表明:Weibull分布和数学期望公式的组合更适合原始样本容量的寿命评估。利用扩充后的绝缘失效数据进行寿命评估效果更好,选用反幂函数模型、对数正态分布和中值公式的组合,对扩充样本进行寿命评估最合适。

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