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摘要
电流比较仪的磁屏蔽是减小磁性误差,提高测量精度的重要组成部分,但实际中磁屏蔽往往存在气隙导致屏蔽效能下降,影响比较仪的测量精度。通过建立有限元模型,研究磁屏蔽上引线穿出气隙对屏蔽效能的影响,得到了屏蔽效能随气隙高度变化的规律。对于该模型,气隙高度小于10 mm时,屏蔽效能下降不大;当气隙高度大于10 mm后,屏蔽效能下降明显。最后,搭建实验平台验证气隙对屏蔽效能的影响,实验结果与有限元计算结果相吻合,小气隙对屏蔽效能的影响不大,当气隙超过一定高度后对屏蔽效能影响很大,实际设计中应予以避免。
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