一种带有斜率补偿的片上温度检测电路

作者:郝强宇*; 王日炎; 周伶俐; 贺黉胤
来源:电子技术应用, 2020, 46(08): 80-82.
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.200189

摘要

介绍了一种采用0.13μm CMOS工艺制作的适用于片上集成电路的温度传感器。分析了核心模拟电路和温度检测原理,对参考电压进行了斜率补偿,以取得更准确的温度检测性能。样品电路测试表明,在-55℃~125℃范围内,温度检测结果与实际温度基本吻合。