为建立一种快速准确检验集成电路卡(IC卡)的方法,采用最新的差分拉曼光谱技术对43个IC卡样品进行了检验,根据样品差分拉曼光谱图中特征峰的不同对IC卡进行初步分类。同时,结合多元统计学,分别用聚类分析法、相关性分析法对分类结果进一步验证。研究表明,该方法实现了对IC卡区分的目的且操作简便、无损检材,可为公安机关侦查破案提供帮助。
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