一种基于光场EPI图像的深度估计方法

作者：张骏; 李坤袁; 郑阳; 蔡洪艳; 张旭东; 孙锐; 高隽

来源：2020-02-21, 中国, ZL202010107015.3.

本发明公开了一种基于光场EPI图像的深度估计方法,其步骤包括：1、对光场数据进行重聚焦,获取不同聚焦参数下的光场数据；2、从重聚焦后的光场数据中提取水平和垂直视角的子孔径图像；3、从子孔径图像中提取水平和垂直方向的光场EPI图像；4、搭建基于光场EPI图像关联推理的双支路深度估计模型,用所提取的水平和垂直方向EPI图像进行训练；5、利用训练好的深度估计模型对待处理的光场数据进行深度估计。本发明能充分利用EPI图像中心像素与邻域的关联性,并能利用光场重聚焦原理实现数据增强,从而能有效提高光场EPI图像深度估计的准确性。

• 单位
  合肥工业大学