新生儿低血糖脑损伤患儿磁共振成像特征及影响因素分析

作者：姜旭红; 姚万松; 王艳敏

来源：青岛医药卫生, 2020, 52(04): 296-298.

• 新生儿
• 低血糖
• 脑损伤
• 磁共振成像

目的探讨新生儿低血糖脑损伤患儿磁共振成像特征,并对新生儿发生低血糖脑损伤的相关影响因素进行分析,为临床诊治提供参考依据。方法选择2018年4月至2019年11月期间在本院接受治疗的新生儿低血糖脑损伤患儿31例作为脑损伤组,另选同期住院治疗的新生儿低血糖无脑损伤患儿53例作为无脑损伤组,分析脑损伤组患儿磁共振成像特征,对可能影响新生儿发生低血糖脑损伤的各因素进行单因素及多因素Logistic回归分析。结果新生儿低血糖脑损伤患儿磁共振成像主要为T1加权像(T1WI)、矢状面T2加权像(T2WI)正常信号,占比为54.84%,其次为T1WI低信号、T2WI高信号,占比为32.26%;两组患儿分娩方式、胎龄占比对比,差异无统计学意义(P>0.05);脑损伤组患儿惊厥史、血糖水平(0.5～1.4mmol/L)、低血糖持续时间(≥24h)、异常脑电图检查、孕妇合并妊娠期糖尿病占比显著高于无脑损伤组患儿,差异有统计学意义(P<0.05);经Logistic回归分析发现,惊厥史、血糖水平(0.5～1.4mmol/L)、低血糖持续时间(≥24h)、异常脑电图检查、孕妇合并妊娠期糖尿病均为导致新生儿发生低血糖脑损伤的相关影响因素(OR>1,P<0.05)。结论惊厥史、血糖水平(0.5～1.4mmol/L)等均可导致新生儿发生低血糖脑损伤,临床应积极采取相关措施,避免新生儿发生惊厥;同时,密切监测血糖水平,给予升糖治疗,降低新生儿低血糖脑损伤的发生风险。