晶振源特性对IEEE1588同步性能影响的量化分析

作者:陈雷; 朱天林; 刘锋; 王伟
来源:电子测量与仪器学报, 2014, 28(06): 650-656.
DOI:10.13382/j.jemi.2014.06.012

摘要

晶振源质量是IEEE1588同步性能的决定性因素之一,其影响程度受复杂物理特性及时钟伺服影响,量化分析尚不完善,仅能适用于高稳晶振。以经典PI伺服为例,引入时钟伺服影响因子,推导出晶振准确度和稳定度对IEEE1588同步性能的影响公式,基于改进型终端搭建满足理论假设的实测环境,统计测得基于XO-5ppm的同步精度优于500 ns、标准差约为130.97 ns,基于OCXO-0.5ppm的同步精度优于50 ns、标准差约为7.95 ns。测试表明同等环境下,晶振质量对IEEE1588同步起到决定性影响,完善后的量化分析同时适用于高稳晶振和低稳晶振,具有更好的适用性。

  • 单位
    北京跟踪与通信技术研究所

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