介绍了一种适用于超大晶粒取向硅钢的高斯晶粒取向偏离角的X射线衍射测量方法，提出了将试探法和探测器扫描法相结合的方式进行测量。结果表明：该方法可以同时获得准确的实际衍射角度和取向偏离角度，试样制备方式简单，对设备的要求低且测量结果准确。
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