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摘要
基于优良导体在磁场下的涡流效应理论和固体的热声效应理论，建立了氧化铟锡(ITO)导电薄膜磁-热-声效应的理论模型，推导了导电薄膜热致发声的温度振荡和输出声压表达式。对有基底的ITO导电膜进行了磁场下的热声理论计算和实验测试，结果表明：薄膜的温度振荡值随频率呈上升趋势，与电-热-声模型相比趋势相反；薄膜声压的理论值与实验值在频域内的变化趋势基本吻合，验证了理论模型的正确性。进而，根据磁-热-声的理论模型，分析了线圈相关参数对薄膜声压级的影响，结果表明：薄膜声压级随着线圈匝数的增加而增大，随着薄膜与线圈中心距离的增加而减小，随着线圈半径的增加而减小。文中的研究结果拓展了导电薄膜在扬声器等领域的应用。
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