科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
针对纳米级工艺中存在的组合逻辑电路单粒子瞬态现象对电路可靠性的危害问题。通过采用基于延迟单元的双模冗余思想，在传统设计的基础上，提出一种改进的可以抗单粒子翻转和单粒子瞬态的带有扫描输入功能的TSPC型D触发器。该设计采用双模冗余结构实现抗单粒子翻转加固，通过引入延迟单元结构消除输入数据信号所产生的SET瞬态脉冲，并添加扫描输入功能增强触发器的灵活性与系统的可测性。通过UMC 55nm工艺软错误故障注入仿真，结果表明，所提出的电路结构能够有效抑制单粒子翻转和单粒子瞬态脉冲对D触发器可靠性的影响。
-
单位中国电子科技集团公司
