科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
多功能芯片由单入单出单通道升级为多入多出多通道收发芯片，并大量应用于现代通信领域。针对多收发通道多功能芯片测试过程中，多次移动探针、重复压针、无法自动测量、测试效率低等不足，研究了多端口在片校准技术。通过去嵌入校准方法，将校准面移到探针尖端，实现了多端口微波探针在片精确校准。提出了一次压针测试多端口芯片各项参数的方法，利用定制的集成多端口共面探针，搭建了一次压针全通道测试系统，通过软件控制开关矩阵，完成多端口信号传输及数据采集，实现一次压针全通道测试。并与传统测试方法的测试数据进行对比分析，证明了该方法的可行性。
- 单位
