通过两步溶液法制备了FA0.4MA0.6PbBr3-xIx有机无机钙钛矿薄膜，在薄膜两端添加电极制成存储器件。使用Keithley4200A-SCS仪器与无光环境探针台对存储器件进行I-V循环曲线测试，探究不同成分有机-无机钙钛矿薄膜对于器件存储性能的影响。结果表明随着X的增大，器件的稳定性开始下降并在X=2.2时降至最低。每个器件虽然都存在两个电阻态变化，但是随着X的增大器件在发生电阻切换时，电阻的阻值变化越来越小。说明Br-不仅对器件的稳定性而且对器件的电阻态变化有较大的影响。
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