改变背景辐射研究碲镉汞中波光导探测器低频噪声

作者：任仁; 乔辉; 刘大福; 孔令才; 张燕; 李向阳

来源：红外与激光工程, 2006, S5: 26-29.

• 低频噪声
• 背景辐射
• 金属杂质
• 碲镉汞 Low frequency noise
• Background radiation
• Metal impurity
• MCT

针对工程研发中发现的两种碲镉汞中波光导探测器1 KHz 下噪声在封装前后变化幅度不同的现象,通过改变背景辐射条件测量得到了两种器件的低频噪声频谱。对两种器件的低频噪声频谱分析表明,噪声大的器件在改变背景辐射条件前后都以 1/f 噪声为主。为探明较大 1/f 噪声的来源问题,对器件铟金电极的成份做了 SIMS 测试。分析测试结果发现,噪声性能较差器件的电极中含有大量的杂质铝及锌,表明由于电极成份不纯带来的接触状况不良是造成器件较大低频 1/f 噪声的原因。

• 单位
  中国科学院上海技术物理研究所; 传感技术国家重点实验室