激光干涉测量中条纹计数的CPLD设计及实现

作者：韦丰; 陈本永; 杨将新

来源：机电工程, 2005, (5): 47-50.

DOI：10.3969/j.issn.1001-4551.2005.05.013

• CPLD
• VHDL
• 干涉条纹计数
• 动镜

使用CPLD设计并实现了采用干涉条纹进行测量的光学测量系统中的计数电路部分,取代了传统的多元件分立的电路设计,达到了很好的效果,满足了光学干涉测量准确快速测量的要求.此分析适用于一般条纹计数系统.

• 单位
  浙江大学; 浙江理工大学