摘要

采用固相烧结法制备了五元系PNN-PSN-PMN-PZT压电陶瓷,通过X线衍射(XRD)研究了组分不同Zr/Ti比的相结构,并研究不同Zr/Ti比和Sr掺杂量对组分介电、压电性能的影响。研究表明,组分的相结构均为单一的钙钛矿结构;随着Zr/Ti比的增加,组分的相结构由三方相向四方相转变,且组分的准同型相界位于r(Zr)/r(Ti)=0.98附近;在r(Zr)/r(Ti)=0.98的组分中掺杂Sr发现,随着Sr含量的逐渐增加,压电陶瓷的介电和压电性能先增加后减小,当x(Sr)=4.0%时,介电和压电性能出现极大值,即介电常数εT33/ε0=3 578,压电常数d33=652pC/N,机电耦合系数kp=0.81,品质因数Qm=65,介电损耗tanδ=1.72%,居里温度TC=191℃,且具有典型的介电弛豫特性。

  • 单位
    贵州航天计量测试技术研究所; 贵州振华红云电子有限公司