本文主要介绍了一种可用于文物分析领域的新型分析方法——广域X射线荧光扫描成像技术(Scanning Macro-XRF)。文中对该技术在最近几十年的发展历史做了简要的概述,对比了之前几种成像方式来说明该方法学的优势所在,通过具体案例阐述了该方法目前在油画、金属器物、镶嵌彩色玻璃、泥金手稿和陶瓷珐琅领域取得的研究成果,最后展望了该方法学的最新发展及前景。
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