短波红外光谱技术在矿床勘查中的应用

作者：田丰; 冷成彪^*; 张兴春; 田振东; 张伟; 郭剑衡

来源：矿物岩石地球化学通报, 2019, 38(03): 634-642.

DOI：10.19658/j.issn.1007-2802.2019.38.042

• 地质学
• 围岩蚀变
• 短波红外光谱
• 热液矿床
• 矿床勘查
• 找矿指标

短波红外光谱(SWIR)技术是近年来从国外引入的一种新型矿床勘查研究手段,该技术具有快速、高效、低成本和高灵敏度等优点,已被广泛应用于矿床勘查研究中。本文对SWIR技术的基本原理、发展历程和常用仪器软件进行了较为详尽的介绍,重点介绍了其在矿床勘查中的两个主要应用方向:蚀变矿物填图和成矿地质环境反演。前者为该技术手段的核心功能,通过SWIR波段对特定矿物进行识别,确定蚀变矿物的分布情况,快速划分蚀变分带,以便缩小找矿范围,从而提升找矿效率和准确率;后者是利用目标蚀变矿物反射光谱特征参数(如波长吸收位置、结晶度等)的规律性变化,反演成矿的地质环境,确定热液中心,提供找矿指标。最后,初步提出了短波红外光谱技术的发展趋势。

• 单位
  中国科学院地球化学研究所; 矿床地球化学国家重点实验室; 东华理工大学; 中国科学院大学