采用不同范式ERP联合推断重型颅脑外伤后WAIS智商

作者：刘子龙; 程珞; 孙婷怡; 赵丽丽; 陈晓瑞; 赵小红; 饶广勋; 刘良

来源：中国法医学杂志, 2014, 29(03): 214-221.

DOI：10.13618/j.issn.1001-5728.2014.03.006

• 法医精神病学
• 重型颅脑损伤
• 智商
• 事件相关电位
• 回归模型

目的探讨联合应用视觉Oddball、数字计算和图片再认范式引出的事件相关电位(ERP)特征性成分推断重型颅脑外伤(sTBI)患者智商的可行性。方法采用3种ERP范式检测122名交通事故所致sTBI患者,同时测查韦氏成人智力量表(WAIS),建立回归模型。结果 3种刺激范式在sTBI患者中均能记录到稳定的ERP波形,无明显性别差异,其中图片再认P500潜伏期最长,数字计算P3c次之,视觉VP300最短(P<0.01),3者的波幅与WAIS总智商无明显相关(P>0.05),P500潜伏期均值与总智商的相关性(r=-0.67,P<0.01)高于P3c(r≈-0.57,P﹤0.05)和VP300(r≈-0.43,P<0.05);采用VP300、P3c、P500潜伏期建立的模型分别只能解释伤后WAIS智商方差变异的18%、33%、45%,3个指标联合可达56%;推断模型均不存在明显共线性。结论视觉VP300、数字计算P3c和图片再认P500的潜伏期均可用于推断脑损伤后的智能状态,增加刺激材料复杂性或联合多个ERP指标推断脑外伤后WAIS智商结果更为可靠。

• 单位
  神经内科; 华中科技大学同济医学院; 监利县人民医院