为研究硅光电器件的性能,对基于最小二乘法的硅二极管伏安(I-V)特性建模进行研究。分析二极管的I-V特性,采用多项式回归分析算法对实验测量的非线性数据集进行拟合,通过最小二乘法推定系数来构造其矩阵,求取反应硅二极管I-V特性的数学模型参数,通过预测值与实际测量值之间的误差分析来验证算法拟合经验公式的准确性。结果表明,该算法和程序可广泛应用于非线性数据集的多项式回归分析中。
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