IGBT模块在现代工业技术上的应用十分广泛,研究表明结温过高是影响其安全性与可靠性的主要原因之一。为了抑制运行中IGBT模块的温升,本文运用Logistic混沌映射随机数算法,通过对DSP芯片输出的PWM波周期的随机化,探究其在IGBT模块运行时的温升抑制作用。经过实验验证,在IGBT模块结温从45℃升～53℃过程中,随机周期PWM比正常PWM方式的温升时间增多了88.8 s,表明该方式对IGBT模块的温升抑制效果良好,在现代工业技术领域中有较好的应用前景。
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