科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
本文成功将背散射电子成像技术应用于观察少量助烧结剂在氧化铈基陶瓷材料中的显微结构与分布形态。结合X射线衍射和能谱分析结果发现,Co基助烧结剂主要以晶格掺杂和晶界第二相的形式存在。当Co掺杂量小于其在氧化铈基陶瓷中的固溶极限时,主要以晶格掺杂的形式存在;当Co掺杂量大于其固溶极限时,多余的Co将以富集相的形式聚集在晶粒晶界上。
-
单位中国科学院; 中国科学院福建物质结构研究所
本文成功将背散射电子成像技术应用于观察少量助烧结剂在氧化铈基陶瓷材料中的显微结构与分布形态。结合X射线衍射和能谱分析结果发现,Co基助烧结剂主要以晶格掺杂和晶界第二相的形式存在。当Co掺杂量小于其在氧化铈基陶瓷中的固溶极限时,主要以晶格掺杂的形式存在;当Co掺杂量大于其固溶极限时,多余的Co将以富集相的形式聚集在晶粒晶界上。
