基于Labview机器视觉的SIM卡槽缺陷检测系统研究

作者:郑中华; 施鑫铭; 刘伟斌; 熊建辉; 鄢仁辉
来源:东莞理工学院学报, 2021, 28(05): 50-56.
DOI:10.16002/j.cnki.10090312.2021.05.006

摘要

设计了一套基于Labview机器视觉的SIM卡槽缺陷检测系统,首先通过光学相机获得SIM卡槽的彩色图像,并结合Labview软件对图像进行灰度化处理和模板匹配算法,获得模板的匹配特征及位置;其次对图像进行形态学处理细化目标轮廓;再对图像进行二值化处理,得到引脚上白色的斑点面积,通过判断斑点面积来确认引脚是否存在折弯、变形、缺失等情况;最后采用彩色定位算法来判断SIM卡槽上引脚是否存在漏铜情况,实现对SIM卡槽缺陷的准确检测,并将检测结果在人机交互界面进行显示。试验表明,所设计的检测系统误报率为0,漏报率为0,平均检测时间小于750 ms,满足实际生产的应用需求。

  • 单位
    福建师范大学协和学院

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