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摘要
提高四分区镀膜法中的膜面精度对光谱信息的提取起到关键性的作用。从四分区镀膜法的基本原理着手,对限制膜面倾角对风速和温度的测量精度进行调整和完善。膜面平整度的各种误差对测量结果有着直接的影响,直接关系到测量结果的精度。现有的风速和温度的测量精度对膜面平整度进行了误差限制,膜面上的点凹陷也对测量结果有明显的影响。通过特定的温度范围得出膜面倾斜角度的限制范围。误差范围的限定为四分区镀膜法风场探测的发展起到了关键性的作用。
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提高四分区镀膜法中的膜面精度对光谱信息的提取起到关键性的作用。从四分区镀膜法的基本原理着手,对限制膜面倾角对风速和温度的测量精度进行调整和完善。膜面平整度的各种误差对测量结果有着直接的影响,直接关系到测量结果的精度。现有的风速和温度的测量精度对膜面平整度进行了误差限制,膜面上的点凹陷也对测量结果有明显的影响。通过特定的温度范围得出膜面倾斜角度的限制范围。误差范围的限定为四分区镀膜法风场探测的发展起到了关键性的作用。
