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摘要
X射线光栅微分相位衬度成像技术可以观察到常规吸收衬度成像难以分辨的弱吸收物质的精细结构信息，因而在医学、材料学等研究领域具有巨大的应用前景。但传统的X射线光栅微分相位衬度成像技术由于采用分析光栅作为空间滤波器，需要采用相位步进法扫描分析光栅来获得样品的多张投影图像才能够分离出样品的吸收、折射和散射信息，因此存在样品曝光时间长、辐射剂量高以及X射线光通量利用率低等问题，限制了其在各个学科领域的应用研究。为克服上述问题，本文提出一种基于免分析光栅相位衬度成像系统的一次曝光样品信息提取算法。该算法只需要利用一块相位光栅，进而采用高分辨探测器进行样品投影数据的一次采集即可提取样品的吸收、折射和散射信息...
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