C-T型平板波导红外光谱仪系统自身背景辐射的分析与抑制

作者：吴越; 刘家祥; 方勇华; 张蕾蕾; 杨文康

来源：红外与激光工程, 2019, 48(08): 98-104.

• 红外光谱仪
• 平板波导
• 背景辐射
• 杂光系数

红外光谱仪内部背景辐射在长波红外波段(8～12μm)影响比较显著,会严重降低光学系统的分辨率和信噪比。利用TracePro光学分析软件,对基于交叉非对称Czerny-Turner(C-T)型平板波导红外光谱仪进行了背景辐射分析,包括机械构件表面发射率以及光学元件表面温度对背景辐射的影响。引入了杂光系数作为评价指标,根据仿真分析结果,在高低温箱中,对该红外光谱仪的背景辐射影响采取抑制措施并进行了实验测量,实验结果证明:采取背景辐射抑制措施后,C-T型平板波导光谱仪系统的杂光系数在常温下(298 K)能达到5%以下。

• 单位
  中国科学技术大学; 中国科学院，安徽光学精密机械研究所; 中国科学院安徽光学精密机械研究所