镍粉制备过电流保护元件的失效分析

作者：方勇; 高道华

来源：仪表技术, 2018, (12): 6-14.

DOI：10.19432/j.cnki.issn1006-2394.2018.12.002

• 镍粉
• 过电流保护元件
• 氧化
• X-Ray

利用电阻测试、电子显微镜、X-Ray、扫描电镜和能谱分析以及芯材电阻解析对镍粉填充聚乙烯制备的过电流保护元件失效品与正常品进行对比。结果表明:失效品电阻呈百毫欧及欧姆级高阻而正常品电阻约11 mΩ;过电流保护元件在X-Ray分析显示均无结构异常。电子显微镜、SEM和EDS观察:环氧树脂胶层存在偏薄区域,且有导电粒子裸露在空气中风险。芯材电阻解析可确认过电流元件失效是因PTC芯材呈高电阻状态,而在SEM和EDS分析下导电粒子镍粉发生氧化生成绝缘的氧化镍是PTC芯材呈高阻状态的主要原因。

• 单位
  上海长园维安电子线路保护有限公司