摘要
电子器件在大气环境下发生沿面闪络导致工作失效是限制其性能的瓶颈问题之一。本文基于高速相机诊断得到了大气条件下陶瓷沿面闪络发展过程,并与真空沿面闪络过程进行了比较。然后基于二维网格粒子法耦合直接模拟蒙特卡罗法(PIC-DSMC)建立了相应的仿真模型,得到了大气条件下陶瓷沿面闪络过程中电子和离子数密度分布演化特性,分析了大气条件下沿面闪络过程中等离子体通道的形成与竞争特性,并与实验结果进行了验证,阐明了大气条件下沿面闪络过程的物理机制,为进一步深入理解沿面闪络问题提供了支撑。
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单位中国工程物理研究院电子工程研究所