摘要

物联网设备天线有源性能测试项目主要包括总全向辐射功率(TIRP)和总全向辐射灵敏度(TIRS)测试。传统的天线有源测试方法需要测试大量角度的EIS和EIRP,测试效率低下。为了缩短天线有源测试时间、提升测试效率,介绍了一种基于天线互易性原理的天线性能有源测试方法,并选取一款LTE-Cat1物联网终端实际验证了所述测试方法的实际效果,结果表明,该方法可以避免现有方法存在的弊端,缩短测试时间,提升测试效率,具有工程实用价值。