上海“6.25”辐射事故受照者14年染色体畸变随访研究

作者：陈英; 周平坤; 刘秀林; 张学清; 杜杰; 闫学昆; **昌

来源：癌变.畸变.突变, 2008, (02): 143-147.

• 染色体畸变
• G_显带核型分析
• 荧光原位杂交
• 辐射远后效应

背景与目的:1990年上海"6.25"60Co源辐射事故中2例重度、3例中度骨髓型急性放射病患者被救治成功。为了阐明放射病的远后效应,对该5名受照者连续进行照后14年的染色体畸变随访观察,为辐射远后效应评价积累资料。材料与方法:常规染色体畸变分析、G_显带自动核型分析以及用全染色体涂染探针进行FISH分析,检测非稳定性畸变(Cu)和稳定性畸变(Cs),并将历年检测结果进行比较。结果:照后3.5年染色体Cu畸变降至初始水平的20%左右,照后14年已基本丢失贻尽。残留的畸变以易位等Cs畸变为主。Cs与复杂畸变的出现频率均与受照剂量相关,照后6～14年基本保持不变。G_显带自动核型分析与FISH方法检出的总畸变率大体一致。各条染色体的断裂几率呈随机分布。染色体畸变的恢复速度及远后效应的严重程度不仅与受照剂量有关,而且与机体的健康状况密切相关。结论:Cs畸变是评价辐射远后效应的理想指标。对事故受照者进行长期随访观察具有十分重要的意义。

• 单位
  军事医学科学院放射与辐射医学研究所