三氧化钨超薄纳米片SERS活性基底的制备与性能研究

作者：孙宗杰; 林东岳^*; 何遥; 孙宇峰^*; 杨良保

来源：光散射学报, 2020, 32(04): 320-327.

DOI：10.13883/j.issn1004-5929.202004005

• 三氧化钨
• 表面增强拉曼散射
• 基底
• 氧缺陷

利用酸辅助一锅法合成了形貌均一的三氧化钨方形纳米片。通过扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)和紫外漫反射吸收光谱(UV-DRS)对材料的形貌结构和均一性进行表征。由X射线光电子能谱分析(XPS)与X射线衍射(XRD)对材料中的元素和价态表征可知,成功制备了三氧化钨纳米片,并发现其表面具有一定的氧缺陷。将该材料作为表面增强拉曼散射(Surface-enhanced Raman scattering, SERS)基底,对不同浓度结晶紫(CV)进行了检测,并经统计计算得到了917 cm-1处特征峰的相对标准偏差(RSD)值为16.13%,表明该基底具有较高的重复性。

• 单位
  安徽工程大学; 中国科学院合肥物质科学研究院