破坏性试验能力验证方法研究

作者:杨城; 谭晨; 王伯淳
来源:电子与封装, 2016, 16(08): 5-8.
DOI:10.16257/j.cnki.1681-1070.2016.0089

摘要

能力验证是利用实验室间比对,按照预先制定的准则评价参加者的能力,即利用实验室/机构间结果的比对来判定实验室/机构在制定业务范围内校准、检测或测试的能力。过去很多人认为破坏性试验不能进行能力验证试验。以电子元器件破坏性物理分析(DPA)试验时进行的破坏性键合强度试验的能力验证方案为例,开展破坏性试验能力验证方法研究,为往后在实验室间进行破坏性试验的能力验证活动提供一定的参考。

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