集成电路筛选过程中连接性失效分析及防范

作者：罗喜明; 吴传昕

来源：电子测量与仪器学报, 2012, S1: 66-68.

• 集成电路
• 连接性失效
• 筛选 IC
• connect invalidation
• filtration

本文介绍了集成电路筛选过程中的主要失效模式及连接性失效的产生原因,并对筛选过程中的失效情况进行了统计分析,提出了连接性失效的判断方法及筛选过程中对连接性失效的防范措施。