用开路电压法测晶体硅太阳电池少子寿命的研究

作者：彭银生; 陈庭金

来源：海南大学学报(自然科学版), 2005, (2): 133-139.

DOI：10.3969/j.issn.1004-1729.2005.02.010

• 太阳电池
• 开路电压衰减法测量
• 少子寿命

根据太阳电池的工作原理,详细论述了用脉冲光源照射n/p结太阳电池瞬间时,由于光电压,即开路电压的建立,将有电子从n区通过n/p结向p区边界注入,这些注入p区的过剩电子(少子)在运动中复合所需的时间,我们定义为少子寿命.理论上给出了注入p区的电子复合带来的开路电压与寿命的关系式(Voc(t)),同时也研究了n/p结势垒电容放电对Voc(t)的影响.因此建议使用开路电压随时间的衰减关系式(Voc(t

• 单位
  海南医学院; 云南师范大学