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摘要
X射线光栅干涉仪成像需要高条纹可见度以获得高信噪比图像.最近的报道证实, X射线双矩形相位光栅干涉仪实验测量的条纹可见度较低.为此,提出了基于双三角形相位光栅X射线干涉仪的条纹可见度研究.利用X射线双相位光栅干涉仪的强度变化规律,对比研究了单色照明和不同多色照明下,双三角形相位光栅X射线干涉仪与双矩形相位光栅干涉仪的条纹可见度随光栅间距的变化规律.结果表明:无论是单色照明还是多色照明,双三角形相位光栅X射线干涉仪的条纹可见度的峰值随相移量的增加而增大.当相移量为5π/2时,双三角形相位光栅X射线干涉仪的条纹可见度在单色照明下比双矩形相位光栅干涉仪的条纹可见度提高约21%,在多色照明下提高至少23%.而在多色照明下,随着X射线平均能量偏离光栅设计能量的增加或光源焦点尺寸的增加,双相位光栅干涉仪条纹可见度的峰值均会单调下降.这些结果可作为X射线双相位光栅干涉仪的参数设计和性能优化的理论指导.
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单位合肥工业大学; 物理学院
