本文对半导体自动测试设备的相关概念做出了简要的阐释,并论述了负载板继电器的性能和特点,并在现有的对半导体自动测试设备及负载板和继电器的研究的基础上,提出了全新的有关半导体自动测试设备测定过程的设计理念。利用半导体自动测试设备,设计出的测试负载版电路及测试程序界面对各类继电器均有一定的适应性,通过编写一定的测试程序来对负载板开关继电器的反应时间、工作功率、温度等相关参数进行实验和测试。
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