集成电路测试技术研究

作者：陈昆; 刘丹

来源：电子元器件与信息技术, 2020, 4(08): 12-14.

DOI：10.19772/j.cnki.2096-4455.2020.8.006

• 集成电路
• 测试技术
• 应用

随着我国科学技术水平的发展,电子信息技术也取得了不小的进步,在这种情况下,集成电路测试技术更应该努力实现突破。因为集成电路设计开发过程非常复杂,对相关人员的操作有更加严格的要求,这也是为了保证电子产品的质量。为此,本文主要分析集成电路测试的目的,集成电路测试的分类,以及集成电路测试技术的应用。