一种基于前景检测的双框架缩略图像质量评价方法

作者：郭礼华; 李宇威

来源：2019-03-27, 中国, CN201910235265.2.

本发明公开了一种基于前景检测的双框架缩略图像质量评价方法,包括步骤：S1、对输入的原始图像和缩略图像进行图像配准,得到原始图像和缩略图像的像素对应关系；S2、对输入的原始图像进行前景检测,得到前景显著性图；S3、判断图像是否具有显著前景；S4、若图像有显著前景,则综合采用前景质量评价和全局质量评价来计算缩略图像的客观质量评分；S5、若图像没有显著前景,则仅采用全局质量评价来计算缩略图像的客观质量评分；S6、用已有数据训练得到的评分融合模型对步骤S4或S5中的各项指标进行融合得到最终的客观排名或评分。通过本发明方法能够取得更好的质量评价效果。

• 单位
  华南理工大学