Sn4+-Cu2+共掺杂对YIG陶瓷结构和磁性能的影响

作者：周孝媛; 吴燕辉; 郑辉^*

来源：磁性材料及器件, 2023, 54(06): 56-60.

DOI：10.19594/j.cnki.09.19701.2023.06.009

• 钇铁石榴石
• 掺杂
• 饱和磁化强度
• 铁磁共振线宽

采用固相反应法制备了Sn4+-Cu2+共掺杂的钇铁石榴石铁氧体Y3Fe5-2xCuxSnxO12(x=0, 0.05, 0.10, 0.15)陶瓷。利用X射线衍射仪、拉曼光谱仪、扫描电子显微镜、振动样品磁强计等仪器探究了Sn4+-Cu2+离子掺杂浓度对于钇铁石榴石微观形貌、晶体结构、饱和磁化强度以及铁磁共振线宽等方面的综合影响。结果表明，Sn4+-Cu2+离子有效进入八面体a位，促进晶粒的生长并获得致密的显微结构；提升激活能，降低氧空位浓度；当掺杂量为x=0.10时，YIG陶瓷的饱和磁化强度具有最大值29.29 emu/g，铁磁共振线宽具有最低值29Oe，优异的电磁特性使其可望在微波器件获得应用。

• 单位
  杭州电子科技大学; 中国电子科技集团第九研究所