摘要
航天器在太空中会受到单粒子效应(SEE)带来的威胁,航天用电子器件在装备前必须进行抗单粒子效应能力的测试评估。本文研制了基于STM32的CAN控制器单粒子效应测试系统。硬件设计上对待测器件进行单独供电,以便准确监测单粒子闩锁(SEL)效应;软件上,实现CAN控制器的动态测试,以便监测单粒子翻转效应(SEU),研究SEU的数据统计方法,并利用Labview设计上位机监测界面。试验结果表明,该测试系统可以实时全面地监测CAN控制器的单粒子效应,并有效地保护板上芯片的安全。
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单位中国原子能科学研究院; 中国电子科技集团公司第五十八研究所