ns激光辐照硅光电探测器的损伤阈值

作者：徐立君; 刘丽炜; 姜传军; 杨立鹏; 周鸣岐; 张喜和

来源：物理实验, 2010, (11): 8-11.

DOI：10.19655/j.cnki.1005-4642.2010.11.003

• 损伤阈值
• 强激光辐照
• 功率密度
• 反射率 damage threshold
• intensive laser irradiation
• power density
• reflectivity

以He-Ne激光作为参考光,采用反射光能量法,测量了ns激光辐照硅光电探测器的损伤阈值,并测量了不同功率密度的强激光辐照下探测器对参考光的反射率.实验结果表明,ns激光辐照硅光电探测器的损伤阈值为4.1×106W/cm2,在探测器被强激光损伤的初期阶段,探测器对参考光的反射率下降很快,继续增加入射激光的能量,探测器对参考光的反射率下降趋于平缓.

• 单位
  长春理工大学