一种基于统计的SAR ADC双比较器失调失配校准方法及电路

作者：朱樟明; 毛恒辉; 李登全; 赵磊; 丁瑞雪; 刘马良

来源：2019-10-21, 中国, ZL201911001628.2.

本发明公开了一种基于统计的SAR ADC双比较器失调失配校准方法,包括：采集若干组输出编码；对所述输出编码的最高位数字编码进行统计计数得到第一统计结果；对所述输出编码的高三位数字编码进行统计计数得到第二统计结果；根据所述第一统计结果对所述第一比较器进行校准；根据所述第二统计结果对所述第二比较器进行校准；重复执行上述步骤,直到当前循环次数达到预设循环次数。本发明还公开了一种基于统计的SAR ADC双比较器失调失配校准电路,包括第一计数器、第二计数器以及校准逻辑控制电路。本发明提供的校准方法基于数据统计理论,进行多次循环校准,同时在每个循环中通过分步法对双比较器失调失配逐一进行校准,提高了校准的精度。

• 单位
  西安电子科技大学