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摘要
探讨了一种通过测量轻基体样品的散射谱估算X射线管原级谱方法。为了验证本方法的有效性,使用本方法计算了X射线管光谱,并将计算得到的光谱作为输入参数计算了多个轻基体样品的MC模拟谱图,然后分别与实测谱进行了比较。将X射线管实测能谱与本方法及半经验方法计算得到的能谱做了对比分析,结果显示本方法有效地实现对X射线管原级谱的准确估算。将多个轻基体样品的实测谱与MC模拟谱进行了对比分析,结果表明本方法大大提高了X射线荧光分析MC模拟结果的准确性。两个对比试验的结果表明,本方法能够实现X射线管光谱的准确计算,并显著地提高了用于X射线荧光分析的MC模拟结果的准确性。
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